Zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych

Przedmiotem zamówienia jest zakup zestawu nadążnych interferometrów laserowych. Minimalne wymagania metrologiczne i funkcjonalne systemu
1. Wymagania dotyczące aparatury pomiarowej
a. System musi składać się z co najmniej czterech nadążnych interferometrów laserowych umożliwiających pracę w układzie multilateracyjnym.
b. Każdy z interferometrów musi realizować pomiar długości w oparciu o interferometrię laserową, zapewniającą bezpośrednie odniesienie do długości fali światła.
c. Rozdzielczość pomiaru długości nie może być gorsza niż 1 nm.
d. System musi umożliwiać realizację pomiarów w objętości przestrzennej o zasięgu co najmniej 20 m.
e. Masa pojedynczego interferometru nie może przekraczać 10 kg, co umożliwia mobilną konfigurację systemu i elastyczne rozmieszczenie w przestrzeni pomiarowej oraz montaż na konstrukcji posiadanych CMM.
f. Interferometry muszą być wyposażone w aktywne układy śledzenia (głowice nadążne), umożliwiające automatyczne podążanie za reflektorem pomiarowym.
2. Wymagania funkcjonalne systemu
a. System musi umożliwiać ciągłe śledzenie reflektora pomiarowego w przestrzeni trójwymiarowej, niezależnie od kierunku jego ruchu (przy zachowaniu orientacji reflektora w stronę interferometru).
b. System musi umożliwiać realizację pomiarów dynamicznych w trybie On‑The‑Fly, pozwalając na wyznaczanie współrzędnych punktów w trakcie ruchu.
c. System musi umożliwiać pracę w konfiguracji redundantnej (multilateracyjnej) oraz rozwiązywanie układu równań nadokreślonych.
d. System musi zapewniać możliwość wyznaczania współrzędnych punktów w przestrzeni wyłącznie na podstawie pomiarów długości, bez wykorzystania pomiarów kątowych.
e. System musi być przystosowany do współpracy z współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi, w szczególności klasy PMM (np. Hexagon/Leitz – będących na wyposażeniu Zamawiającego), umożliwiając realizację procedur wzorcowania i weryfikacji.
f. System musi umożliwiać zastosowanie w badaniach nad dokładnością pozycjonowania maszyn, robotów przemysłowych oraz innych systemów mechatronicznych.
3. Wymagania dotyczące oprogramowania i przetwarzania danych
a. System musi być wyposażony w oprogramowanie umożliwiające wyznaczanie współrzędnych 3D w czasie rzeczywistym na podstawie danych z co najmniej czterech interferometrów.
b. Oprogramowanie musi umożliwiać integrację danych pomiarowych oraz obsługę algorytmów multilateracji, w tym metod numerycznych (np. metoda najmniejszych kwadratów).
c. System musi umożliwiać eksport danych do zewnętrznych systemów metrologicznych oraz ich integrację z oprogramowaniem wykorzystywanym w analizie pomiarów.
d. Preferowana jest możliwość pracy w trybie online (sprzężenie rzeczywiste) lub alternatywnie w trybie półautomatycznym z wykorzystaniem automatycznego przetwarzania danych wsadowych.
e. Oprogramowanie musi umożliwiać analizę jakości danych pomiarowych, w tym ocenę niepewności oraz identyfikację błędów.
4. Wymagania metrologiczne i aplikacyjne rozszerzone
a. System musi zapewniać pełną spójność metrologiczną (traceability) z układem jednostek SI poprzez wykorzystanie interferometrii laserowej.
b. System musi umożliwiać identyfikację oraz kompensację wpływów środowiskowych, takich jak temperatura, ciśnienie oraz wilgotność.
c. System musi umożliwiać zastosowanie w procesach wzorcowania, weryfikacji i monitorowania dokładności współrzędnościowych systemów pomiarowych różnych typów.
d. System musi umożliwiać wykorzystanie reflektorów pomiarowych o szerokim kącie pracy (np. do ~160°), zapewniających stabilność śledzenia w dużych objętościach pomiarowych.
e. System musi umożliwiać prowadzenie badań nad niepewnością pomiarów oraz walidację modeli metrologicznych.