In combinatie met meetinstrumenten worden de halfautomatische probers gebruikt voor het parametrisch testen van afzonderlijke geïntegreerde schakelingen op wafer- of sample-niveau. Het apparaat moet ten minste geschikt zijn voor het testen van micrometerdunne (enkele honderden) tot millimeterdikke samples of wafers met een diameter van 200 mm en 300 mm.
| Ilmoitusnumero | 709719-2025 |
|---|---|
| Ilmoitusta kuvaavat CPV-Koodit | Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja) (38000000) |
| EUVL S | 207/2025 |
| Ilmoitustyyppi | Ilmoitus tehdystä sopimuksesta |
| Aluekoodi | |
| Osoitetiedot |
Imec EU Pilot line NV Heverlee tom.wauters@imec.be https://ted.europa.eu/nl/notice/-/detail/709719-2025 |
| Osoite, johon tarjoukset tai osallistumispyynnöt on lähetettävä | |
| Liitteet | |
| Lähde | TED |