Atomic Force Microscope (AFM) for the characterization of film samples and surfaces under both dry conditions and in liquid environments.
| Ilmoitusnumero | 696592-2026 |
|---|---|
| Ilmoitusta kuvaavat CPV-Koodit | Testaus- ja koelaitteet (38500000), Mikroskoopit (38510000) |
| EUVL S | 196/2026 |
| Ilmoitustyyppi | Ilmoitus tehdystä sopimuksesta |
| Aluekoodi | |
| Osoitetiedot |
Chalmers Tekniska Högskola Aktiebolag GÖTEBORG andreas.luiga@sidecore.se https://ted.europa.eu/en/notice/-/detail/696592-2026 |
| Osoite, johon tarjoukset tai osallistumispyynnöt on lähetettävä | |
| Liitteet | |
| Lähde | TED |