200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
| Ilmoitusnumero | 432100-2026 |
|---|---|
| Ilmoitusta kuvaavat CPV-Koodit | Testaus- ja mittauslaitteet (38540000), Sähkösuureiden mittausvälineet (38341300) |
| EUVL S | 120/2026 |
| Ilmoitustyyppi | Hankintailmoitus (tarjouspyyntö) |
| Aluekoodi | |
| Osoitetiedot |
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik Frankfurt (Oder) vergabestelle@ihp-microelectronics.com https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/432100-2026 |
| Osoite, johon tarjoukset tai osallistumispyynnöt on lähetettävä | |
| Liitteet | |
| Lähde | TED |