Suministro, instalación y puesta en funcionamiento de un equipo Electron Beam Lithography tool up to 8-inch wafers (UPV04) y un equipo SEM (UPV13) para la Pilot Line de la UPV

Valencia, Espanja | Rectorado de la Universitat Politècnica de València
Julkaistu 2 viikkoa sitten | 20.7.2026 Määräaika: 1 kuukausi kuluttua | 15.9.2026 23:59 Alkuperäinen ilmoitus

La contratación objeto del presente expediente se hace necesaria a fin de llevar a cabo la labor de investigación y desarrollo para la Pilot Line de la UPV, con el objetivo de mejorar las líneas piloto avanzadas existentes y desarrollar nuevas en toda la Unión, para permitir el desarrollo y el despliegue de tecnologías de semiconductores de vanguardia y tecnologías de semiconductores de próxima generación.
A tal efecto, resulta necesario proceder a la adquisición, entre otros, de los siguientes equipos:
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• UPV04 - Electron beam lithography tool up to 8-inch wafers:
Equipo de litografía por haz de electrones que expone patrones en resistencias sensibles mediante un haz de electrones enfocado y escaneado. Escribe características con resolución nanométrica según diseño en archivo digital. Dedicado a patronado de nanofabricación, especialmente para máscaras y estructuras en fotónica, semiconductores y nanotecnología.
• UPV13 – SEM:
Equipo de inspección de superficies mediante un haz de electrones enfocado que entrega imágenes de resolución nanométrica. Permite obtener información morfológica y de contraste superficial, así como contraste asociado a diferencias de composición o número atómico, en función de los detectores y modos de imagen disponibles. Dedicado a metrología, inspección y validación de proceso y control de calidad.
La idoneidad del equipamiento se fundamenta en su capacidad para cubrir de forma conjunta los requisitos de patronaje y metrología dedicada necesarios para la fabricación en línea piloto de circuitos fotónicos integrados híbridos. Esta capacidad permite coordinar la definición de parámetros de exposición y puntos de interés para metrología posterior, integrar la inspección SEM externa post-proceso y asegurar la trazabilidad y coherencia de los datos generados durante el flujo de fabricación.

Ilmoitusnumero 504178-2026
Ilmoitusta kuvaavat CPV-Koodit Integroidut piirit ja mikromoduulit (31712110)
EUVL S 138/2026
Ilmoitustyyppi Hankintailmoitus (tarjouspyyntö)
Aluekoodi
Osoitetiedot Rectorado de la Universitat Politècnica de València
Valencia
contratacion@upv.es
https://ted.europa.eu//notice/-/detail/504178-2026
Osoite, johon tarjoukset tai osallistumispyynnöt on lähetettävä
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