Een CD-SEM is een gespecialiseerde elektronenmicroscoop die voornamelijk wordt gebruikt in de halfgeleiderindustrie om de kritieke afmetingen van structuren op geïntegreerde schakelingen (IC’s) te meten, zoals lijndiktes, tussenruimtes en contactgaten. Deze metingen zijn cruciaal voor procescontrole en kwaliteitsborging tijdens de productie van chips.
| Ilmoitusnumero | 234726-2026 |
|---|---|
| Ilmoitusta kuvaavat CPV-Koodit | Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja) (38000000) |
| EUVL S | 67/2026 |
| Ilmoitustyyppi | Ilmoitus tehdystä sopimuksesta |
| Aluekoodi | |
| Osoitetiedot |
Imec EU Pilot line NV Heverlee tom.wauters@imec.be https://ted.europa.eu/nl/notice/-/detail/234726-2026 |
| Osoite, johon tarjoukset tai osallistumispyynnöt on lähetettävä | |
| Liitteet | |
| Lähde | TED |