Gegenstand der Anschaffung ist ein Wafer Prober für den elektrischen Test von Halbleiterwafern mit einer Größe von 150 mm bis 300 mm.
| Ilmoitusnumero | 38721-2026 |
|---|---|
| Ilmoitusta kuvaavat CPV-Koodit | Testaus- ja koelaitteet (38500000), Testaus- ja mittauslaitteet (38540000) |
| EUVL S | 12/2026 |
| Ilmoitustyyppi | Hankintailmoitus (tarjouspyyntö) |
| Aluekoodi | |
| Osoitetiedot |
Technische Universität München München roman.gernhaeuser@ph.tum.de https://ted.europa.eu/de/notice/-/detail/38721-2026 |
| Osoite, johon tarjoukset tai osallistumispyynnöt on lähetettävä | |
| Liitteet | |
| Lähde | TED |